Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía
Utilizando tecnología de análisis de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva, AL-NP-5010A es capaz de medir varios elementos en la sustancia simultáneamente. Se puede configurar para medir cualquier elemento múltiple, desde Na hasta U, según los requisitos de la aplicación del usuario.
El instrumento puede ser ampliamente utilizado en protección ambiental, arqueología, materiales de construcción, directiva RoHS y otras industrias. Es la opción ideal de control de calidad para la empresa.
La espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) es un método de análisis universal de última generación para la determinación elemental de diversos materiales. Se pueden realizar análisis cualitativos, cuantitativos y no estándar precisos en casi todos los elementos de la tabla periódica, desde berilio (Be4) hasta uranio (U92), ya sea una muestra de bloque, polvo o líquido. De acuerdo con los diferentes requisitos de la aplicación, la concentración de análisis varía de 0,1 ppm a 100 %, e incluso la concentración de elementos hasta el 100 % se puede medir directamente sin dilución. El análisis XRF se caracteriza por una sencilla preparación de muestras y un amplio rango de medición.
XRF se utiliza ampliamente en los campos de la protección del medio ambiente.
geología, minerales, metalurgia, cemento, electrónica, petroquímica, polímeros, alimentos, medicinas y materiales de alta tecnología. Desempeña un papel importante en la investigación y el desarrollo de productos, el seguimiento del proceso de producción y la calidad.
