El analizador de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda es un producto de alta tecnología desarrollado por nuestra empresa, que resume la experiencia y las lecciones aprendidas del desarrollo de este tipo de instrumento en China a lo largo de los años, y absorbe y hace referencia a tecnologías internacionales avanzadas. A través de una profunda investigación y desarrollo industrial, todos los indicadores de rendimiento técnico han alcanzado el nivel de productos internacionales similares.

La detección de defectos por rayos X es un método de prueba no destructivo para encontrar defectos utilizando la capacidad de los rayos X para penetrar el material y atenuarlo.

La detección de defectos por rayos X es un método de prueba no destructivo para encontrar defectos utilizando la capacidad de los rayos X para penetrar el material y atenuarlo.

En octubre de 2023, se publicó la "Especificación de calibración para dispositivos industriales de TC de rayos X" (JJF 2043-2023), redactada principalmente por el Instituto de Metrología de Liaoning, Dandong Aolong Radiation Instrument Group Co., Ltd. y el Instituto de Metrología de Zhejiang. e implementado.

La serie AL-Y3500 XRD está diseñada para la investigación de materiales y el análisis de productos industriales. Es un producto perfecto que combina el análisis convencional con la medición para fines especiales.

El 6 de noviembre, la NASA publicó una fotografía del agujero negro más lejano jamás descubierto a través de rayos X.

Impresiones sobre la asistencia al entrenamiento del Sr. Li

El principio del difractómetro de rayos X.