Difractómetro de rayos x

1. El difractómetro de rayos X de escritorio Xrd Mini puede controlar automáticamente el escaneo, la búsqueda de picos y el procesamiento de datos, y es fácil de operar.
2. Los difractómetros de rayos X XRD de escritorio proporcionan un análisis integral.
3. El difractómetro de rayos X de escritorio Xrd Mini ofrece alta precisión de escaneo, buena repetibilidad y datos limpios.

1. Los difractómetros de rayos X combinados pueden detectar polvos, películas delgadas y objetos de ángulo bajo, eliminando la necesidad de comprar varios dispositivos.
2. Los módulos de difractómetros de rayos X combinados son fácilmente reemplazables y los detectores y accesorios se pueden actualizar posteriormente.
3. Los datos del difractómetro de rayos X Y3500 son más confiables, ya que emplean calibración automática y compensación geométrica.

1. El instrumento de laboratorio modelo Y3000 de difracción de rayos X mantiene posiciones de pico estables durante períodos prolongados, lo que lo hace confiable para la investigación y las pruebas por lotes.
2. La difracción de rayos X de polvo de alta precisión Y3000 ofrece alta sensibilidad, una buena relación señal-ruido y detección detallada.
3. AAA combina automáticamente las bases de datos y realiza análisis espectrales, lo que genera resultados fácilmente interpretables.

El difractómetro de rayos X de la serie AL está diseñado para la investigación de materiales y el análisis de productos industriales. La difracción de rayos X en polvo es la combinación perfecta entre el análisis convencional y productos de medición específicos.
El difractómetro de rayos X analiza material orgánico o inorgánico natural o sintético, ampliamente utilizado en el campo de minerales arcillosos, cemento, materiales de construcción, polvo ambiental, productos químicos, productos farmacéuticos, amianto, rocas, investigación de polímeros.

El difractómetro AL-Y500 es el último difractómetro de rayos X bidimensional de escritorio lanzado por Aolong Group. Utiliza un detector fijo para fotografía, que es diferente de los difractómetros de barrido tradicionales. El detector semiconductor de conteo de fotones de matriz de rayos X tiene modos de compatibilidad de punto, línea y plano 0D, 1D y 2D;

La serie XRD AL-Y3500 está diseñada para la investigación de materiales y el análisis de productos industriales. Es un producto perfecto que combina el análisis convencional con la medición para fines especiales.