Difractómetro de rayos X multifuncional combinado AL-Y3500

Aplicado en diversos campos del análisis de la estructura de materiales. Los materiales que se pueden analizar incluyen: materiales metálicos, materiales inorgánicos, materiales compuestos, materiales orgánicos, nanomateriales, materiales superconductores; El estado del material incluye: muestra de polvo, muestra de bloque, muestra de película delgada y muestra de trazas de microárea.

Ampliamente utilizado en campos de investigación como minerales arcillosos, materiales de construcción de cemento, polvo ambiental, productos químicos, productos farmacéuticos, amianto, minerales de roca, polímeros, etc.

Características del instrumento:

● La combinación perfecta de sistemas de hardware y software para satisfacer las necesidades de académicos e investigadores en diferentes campos de aplicación.

● Sistema de medición del ángulo de difracción de alta precisión para obtener resultados de medición más precisos

● Sistema de control del generador de rayos X de alta estabilidad, que logra una precisión de medición repetida más estable

● Varios accesorios funcionales satisfacen las necesidades de diferentes propósitos de prueba.

● Operación programada, diseño estructural integrado, operación fácil y apariencia del instrumento más agradable desde el punto de vista estético

● Identificación de una o más fases en muestras desconocidas.

● Análisis cuantitativo de fases conocidas en muestras mixtas.

● Análisis de estructura cristalina (análisis de estructura de Rietveld)

● Cambios en la estructura cristalina en condiciones no convencionales (condiciones de alta y baja temperatura)

● Análisis de muestras de película, incluida la fase de la película, el espesor de la película multicapa, la rugosidad de la superficie y la densidad de carga.

● Análisis de muestras de microárea.

● Análisis de textura y tensiones de materiales metálicos.