Difractómetro de rayos X de escritorio
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Diseñada para la producción industrial y el control de calidad, esta tecnología avanzada se utiliza para concentrar la producción de difractores de rayos X. Es un difractómetro de rayos X de escritorio funcional y miniaturizado. Capaz de realizar con precisión análisis cualitativos, cuantitativos y de estructura cristalina en muestras metálicas y no metálicas. Especialmente indicado para las industrias de fabricación de catalizadores, dióxido de titanio, cemento, farmacéutica y otros productos.
Principales indicadores técnicos:
● Potencia de funcionamiento (voltaje del tubo, corriente del tubo): 600 W (40 kV, 15 mA) o 1200 W (40 kV, 30 mA), estabilidad: 0,005 %
● Tubo de rayos X: tubo de rayos X metalocerámico, objetivo de Cu, potencia 2,4kW, tamaño focal: 1x10 mm
● Refrigeración por aire o agua (caudal de agua superior a 2,5 l/min)
● Goniómetro: nivel de muestra estructura θ S- θ D, radio del círculo de difracción 150 mm
● Método de medición de muestras: continuo, paso a paso, Omg
● Rango de medición del ángulo: θ S/ θ Cuando está vinculado, -3 ° -150 °
● Ancho mínimo de paso: 0,0001°
● Reproducción de ángulo: 0,0005°
● Velocidad de posicionamiento en ángulo: 1500 °/min
● Contador: Contador semiconductor unidimensional proporcional o de alta velocidad cerrado
● Resolución espectral: menos del 25%
● Tasa máxima de conteo lineal: ≥ 5 × 105CPS (proporcional), ≥ 9 × 107CPS (semiconductor unidimensional)
● Computadora: computadora portátil empresarial Dell
● Software de control de instrumentos: sistema operativo Windows 7, controla automáticamente el voltaje del tubo, la corriente del tubo, el obturador y el entrenamiento de envejecimiento del generador de rayos X; Controle el goniómetro para realizar un escaneo continuo o por pasos mientras recopila datos de difracción; El procesamiento de rutina de los datos de difracción incluye búsqueda automática de picos, búsqueda manual de picos, intensidad de integración, altura de pico, centro de gravedad, sustracción de fondo, suavizado, amplificación de forma de pico, comparación espectral, etc.
●Software de procesamiento de datos: análisis cualitativo y cuantitativo de fases, K α 1 α 2. Funciones como pelado, ajuste de espectro completo, ajuste de selección de picos, cálculo del ancho medio y del tamaño de grano, determinación de células cristalinas, cálculo de tensión de segunda clase, indexación de líneas de difracción , trazado múltiple, trazado 3D, calibración de datos de difracción, resta de fondo, análisis cuantitativo libre de estándares, ajuste de espectro completo (WPF), simulación del espectro de difracción XRD.
● Protección contra rayos de dispersión: protección de plomo+vidrio de plomo, enclavamiento de la ventana de la persiana y dispositivo de protección, medición de la línea de dispersión que no exceda 1 μ Sv/h
●Estabilidad integral del instrumento: ≤ 1 ‰
● Carga de datos de muestra a la vez: configure un muestreador para cargar hasta 6 muestras a la vez
●Dimensiones del instrumento: 600 x 410 x 670 (ancho x fondo x alto) mm
