Utilizando tecnología de análisis de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva, AL-NP-5010A es capaz de medir varios elementos en la sustancia simultáneamente.

El 6 de noviembre, la NASA publicó una fotografía del agujero negro más lejano jamás descubierto a través de rayos X.

Impresiones sobre la asistencia al entrenamiento del Sr. Li

En la industria manufacturera, las piezas fundidas son un producto de proceso común y pueden ocurrir varios defectos, como agujeros de arena, durante el proceso de fabricación. Para garantizar la calidad de las piezas fundidas, es especialmente importante la detección de agujeros de arena. En este proceso, los equipos de pruebas de rayos X desempeñan un papel indispensable.

Este producto adopta el sistema de control de corriente de tubo constante de diseño independiente de nuestra empresa, que resuelve completamente los problemas de reducción de energía de la batería y mala resolución de la película de los transportadores de tuberías tradicionales.

Los elementos de prueba para tuberías incluyen densidad, caudal másico de fusión, presión hidrostática, rigidez del anillo, planitud, flexibilidad del anillo, estabilidad térmica, contenido volátil, contenido de humedad, contenido de negro de humo, dispersión de negro de humo, dispersión de pigmentos, resistencia al gas y crecimiento rápido de grietas. Resistencia, análisis de componentes y pruebas de contenido de componentes.

El principio del difractómetro de rayos X.

El difractómetro de la serie AL-2700 está diseñado para la investigación de materiales y el análisis de productos industriales, y es un producto perfecto que combina el análisis convencional y la medición para fines especiales.

Todo el camino hermanos, todo el camino vino, todo el camino cantando, todo el camino amor ——Número especial del edificio del grupo Aolong Happy Zhangdao Tour 2023

Utilizando tecnología de análisis de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva, AL-NP-5010A es capaz de medir varios elementos en la sustancia simultáneamente. Se puede configurar para medir cualquier elemento múltiple, desde Na hasta U, según los requisitos de la aplicación del usuario.