Difractómetro de rayos X AL-Y3000
● La combinación perfecta de sistemas de hardware y software para satisfacer las necesidades de académicos e investigadores en diferentes campos de aplicación.
● Sistema de medición del ángulo de difracción de alta precisión para obtener resultados de medición más precisos
● Sistema de control del generador de rayos X de alta estabilidad, que logra una precisión de medición repetida más estable
● Exploración programada, diseño estructural integrado, fácil operación y apariencia del instrumento más agradable desde el punto de vista estético
El difractómetro de rayos X es un instrumento de prueba universal que revela la estructura cristalina y la información química de los materiales.
●Identificación de una o más fases en muestras desconocidas.
●Análisis cuantitativo de fases conocidas en muestras mixtas.
●Análisis de estructura cristalina.
●Análisis de textura y tensiones de materiales metálicos.
El difractómetro de rayos X puede analizar materiales inorgánicos u orgánicos sintetizados de forma natural o artificial y se utiliza ampliamente en campos de investigación como minerales arcillosos, materiales de construcción de cemento, polvo ambiental, productos químicos, productos farmacéuticos, asbesto, minerales de roca, polímeros, etc.
●Basado en θ-θ El diseño óptico geométrico facilita la preparación de muestras y la instalación de varios accesorios.
●La aplicación de tubos de rayos X metalocerámicos mejora enormemente el poder operativo de los difractores
●Contador proporcional cerrado, duradero y sin mantenimiento.
●El detector de deriva de silicio tiene una resolución angular y una resolución de energía superiores, y la velocidad de medición aumenta más de tres veces.
●Amplios accesorios de difractómetro para satisfacer las necesidades de diferentes propósitos de análisis
●Reconocimiento automático de diversos accesorios funcionales del difractómetro.
●El diseño modular, también conocido como componentes plug and play, permite a los operadores utilizar correctamente los accesorios correspondientes del difractómetro sin necesidad de calibrar el sistema óptico.
