Con el continuo desarrollo de la tecnología, las pruebas de chips se han convertido en una parte indispensable de muchas industrias. Como herramienta importante para la detección de chips, los equipos de detección de rayos X están recibiendo cada vez más atención de la gente.

El analizador de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda es un producto de alta tecnología desarrollado por nuestra empresa, que resume la experiencia y las lecciones aprendidas del desarrollo de este tipo de instrumento en China a lo largo de los años, y absorbe y hace referencia a tecnologías internacionales avanzadas. A través de una profunda investigación y desarrollo industrial, todos los indicadores de rendimiento técnico han alcanzado el nivel de productos internacionales similares.

La detección de defectos por rayos X es un método de prueba no destructivo para encontrar defectos utilizando la capacidad de los rayos X para penetrar el material y atenuarlo.

La detección de defectos por rayos X es un método de prueba no destructivo para encontrar defectos utilizando la capacidad de los rayos X para penetrar el material y atenuarlo.

En octubre de 2023, se publicó la "Especificación de calibración para dispositivos industriales de TC de rayos X" (JJF 2043-2023), redactada principalmente por el Instituto de Metrología de Liaoning, Dandong Aolong Radiation Instrument Group Co., Ltd. y el Instituto de Metrología de Zhejiang. e implementado.