micro tomografía computarizada
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Sistema de inspección NDT industrial CT con microenfoque de rayos X
El sistema de inspección NDT industrial CT con microenfoque de rayos X es un compacto diseñado con una fuente de rayos X flexible y un detector de alta resolución, que puede cumplir con diversos requisitos de inspección. Los sistemas industriales de rayos X con caracteres como radiografía de alta resolución, escaneo de alta velocidad, multifunción, fácil operación con trabajo estable y bajo costo de mantenimiento. Los sistemas industriales de rayos X pueden equiparse con diferentes fuentes de rayos X de microenfoque, desde 160 kV hasta 300 kV. La mejor resolución JIMA podría alcanzar 0,5 um.
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