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El medidor de espesor de recubrimiento de fluorescencia de rayos X es un instrumento analítico que utiliza tecnología de análisis de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva para medir simultáneamente múltiples elementos. Se puede configurar para analizar y determinar cualquier cantidad de elementos, desde Na hasta U, según los requisitos de la aplicación del usuario.

El diseño de la arquitectura del sistema es simple y compacto, que es un conjunto de sistemas CT industriales de rayos X de alta resolución con configuración flexible y puede satisfacer diversas necesidades de detección. Tiene las características de alta resolución de imágenes, velocidad de escaneo rápida, funciones ricas, operación fácil, operación estable y bajos costos de uso y mantenimiento.

Utilizando la tecnología de análisis Xrf de fluorescencia de rayos X portátil, la fluorescencia de rayos X es capaz de medir varios elementos en la sustancia simultáneamente. El xrf portátil se puede configurar para medir múltiples elementos desde Na hasta U según los requisitos de la aplicación del usuario. El análisis xrf puede usarse ampliamente en protección ambiental, arqueología, materiales de construcción, directiva RoHS y otras industrias. El xrf portátil es la opción ideal de control de calidad para la empresa.

El sistema de tomografía computarizada industrial está compuesto por una fuente de rayos X de alta frecuencia y voltaje constante, un detector de panel plano digital y una mesa de inspección mecánica de alta precisión. El sistema Industrial CT no solo muestra el chip CT y las imágenes 3D del objeto inspeccionado, sino también una inspección de imágenes 2D en tiempo real. Por lo tanto, la radiografía industrial CT se usa ampliamente para la inspección y medición de END en el sector aeroespacial, militar de aviación, maquinaria, fundición, TI, campo del automóvil, etc.

El analizador de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda es un producto de alta tecnología desarrollado por nuestra empresa, que resume la experiencia y las lecciones aprendidas del desarrollo de este tipo de instrumento en China a lo largo de los años, y absorbe y hace referencia a tecnologías internacionales avanzadas. A través de una profunda investigación y desarrollo industrial, todos los indicadores de rendimiento técnico han alcanzado el nivel de productos internacionales similares.

El espectrómetro de fluorescencia de rayos X (XRF) es un método de análisis universal de última generación para la determinación elemental de diversos materiales. El analizador XRF se caracteriza por una preparación de muestras sencilla, una amplia gama de elementos de medición, alta precisión, buena reproducibilidad, velocidad de medición rápida (de 30 a 900 s), sin contaminación ambiental y sin daños a las muestras.

El sistema de rayos X sobre orugas para tuberías adopta el sistema de control de corriente de tubo constante de diseño independiente de nuestra empresa, resuelve por completo los problemas de reducción de energía de la batería y mala resolución de la película de las orugas de inspección de tuberías tradicionales.

El difractómetro AL-Y3000 está diseñado para la investigación de materiales y el análisis de productos industriales, y es un producto integral que combina el análisis convencional con mediciones para fines especiales.

El difractómetro AL-Y500 es el último difractómetro de rayos X bidimensional de escritorio lanzado por Aolong Group. Utiliza un detector fijo para fotografía, que es diferente de los difractómetros de barrido tradicionales. El detector semiconductor de conteo de fotones de matriz de rayos X tiene modos de compatibilidad de punto, línea y plano 0D, 1D y 2D;