espectrómetro

Usando tecnología de análisis de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía, el espectrómetro Xrf AL-NP-5010A es capaz de medir varios elementos en la sustancia simultáneamente. El analizador de metales Xrf se puede configurar para medir cualquier elemento múltiple de Na a U de acuerdo con los requisitos de la aplicación del usuario. El espectrómetro edxrf se puede utilizar ampliamente en la protección del medio ambiente, la arqueología, los materiales de construcción, la directiva RoHS y otras industrias. El espectrómetro Edxrf es la opción ideal de control de calidad para la empresa.

El espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda (WDXRF) es un producto de alta tecnología desarrollado por nuestra empresa basándose en la experiencia y los frutos de la I+D nacional en instrumentos similares a lo largo de años, y absorbiendo la tecnología avanzada internacional. Los índices de rendimiento técnico han alcanzado el nivel de productos similares internacionales. El analizador xrf también se utiliza en universidades e institutos de investigación.

El medidor de espesor de recubrimiento de fluorescencia de rayos X es un instrumento analítico que utiliza tecnología de análisis de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva para medir simultáneamente múltiples elementos. Se puede configurar para analizar y determinar cualquier cantidad de elementos, desde Na hasta U, según los requisitos de la aplicación del usuario.

El analizador de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda es un producto de alta tecnología desarrollado por nuestra empresa, que resume la experiencia y las lecciones aprendidas del desarrollo de este tipo de instrumento en China a lo largo de los años, y absorbe y hace referencia a tecnologías internacionales avanzadas. A través de una profunda investigación y desarrollo industrial, todos los indicadores de rendimiento técnico han alcanzado el nivel de productos internacionales similares.

El espectrómetro de fluorescencia de rayos X (XRF) es un método de análisis universal de última generación para la determinación elemental de diversos materiales. El analizador XRF se caracteriza por una preparación de muestras sencilla, una amplia gama de elementos de medición, alta precisión, buena reproducibilidad, velocidad de medición rápida (de 30 a 900 s), sin contaminación ambiental y sin daños a las muestras.