Análisis portátil de fluorescencia de rayos X Xrf
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- Porcelana
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Utilizando la tecnología de análisis Xrf de fluorescencia de rayos X portátil, la fluorescencia de rayos X es capaz de medir varios elementos en la sustancia simultáneamente. El xrf portátil se puede configurar para medir múltiples elementos desde Na hasta U según los requisitos de la aplicación del usuario. El análisis xrf puede usarse ampliamente en protección ambiental, arqueología, materiales de construcción, directiva RoHS y otras industrias. El xrf portátil es la opción ideal de control de calidad para la empresa.
Principio básico del análisis XRF
La energía potencial orbital del electrón de los distintos elementos es diferente entre sí. Por lo tanto, la energía de los fotones de rayos X emitida después de la excitación es diferente entre sí, es decir, cada elemento emite rayos X con la energía específica del átomo de ese elemento. que representa las características del elemento y por eso se llama radiografía característica del elemento. La radiografía característica de cada elemento tiene su energía específica, y la radiografía detectada con cierta energía puede determinar la existencia de este elemento en la muestra de material.
Principio de trabajo de fluorescencia de rayos X portátil
Los rayos X originales producidos por el tubo de rayos X y el alto voltaje se irradian sobre la muestra después de haber sido filtrada adecuadamente por el filtro óptico. Se estimula la radiografía característica (llamada fluorescencia de rayos X) de los elementos contenidos en la muestra. Los espectros de fluorescencia de rayos X se obtuvieron utilizando detectores de rayos X con alta resolución energética. Diferentes elementos formaron diferentes picos espectrales en los espectros. La fuerza del pico espectral es directamente proporcional al contenido de elementos en la muestra. El espectro de energía detectado por el detector es analizado por la computadora. Los tipos de elementos contenidos en la muestra se analizan cualitativamente por la posición y la forma del pico espectral.
El xrf portátil está equipado con un detector de Si(PIN) o SDD.
La resolución del detector es uno de los principales índices para evaluar el rendimiento del XRF portátil.
Resolución <145eV (Cuanto menor sea la resolución, mayor será la sensibilidad).
Tasa de conteo>1000/S
Área de cristal>15mm2
Grosor de la ventana de berilio = 0,025 mm
Potencia del detector < 1,2 W
Parámetros técnicos
| Modelo | AL-NP-6010A | |
| Peso del tamaño | 353 mm (largo) × 233 mm (ancho) × 200 mm (alto) 7,68 kg | |
| Principio de análisis | Análisis de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil | |
| Rango de medición del elemento | Cualquier elemento de Na(11)~U(92) | |
| Límite mínimo de medición | Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2ppm | |
| Forma de muestra | Tamaño arbitrario, cualquier forma irregular. | |
| Tipo de ejemplo | Plástico/Metal/Película/Energía/Líquido, etc. | |
| Tubo de rayos-x | Material objetivo | Mes |
| voltaje del tubo | 5~50KV | |
| Corriente del tubo | 1~1000μA | |
| Diámetro de exposición de la muestra | 2,5,8mm | |
| Detector | Detector Si-Pin o SDD, sistema de análisis de altura de pulso de alta velocidad | |
| Generador de alto voltaje | Generador HV especial para fluorescencia de rayos X | |
| CAD | 2048 canales | |
| Software de análisis XRF | Productos de software patentados, actualización gratuita de por vida | |
| Método de análisis XRF | Método del coeficiente α teórico, método de parámetros básicos, método del coeficiente empírico | |
| Tiempo de análisis | 30~900 segundos, ajustable | |
| software del sistema operativo | WINDOWS XP | |
| Procesamiento de datos sistema | Anfitrión | Ordenador portatil |
| UPC | ≥2,8G | |
| Memoria | ≥2g | |
| CD ROM | 8×DVD | |
| Disco duro | ≥500G | |
| Mostrar | Pantalla LCD de 14″ | |
| Ambiente de trabajo | Temperatura 10~35℃, humedad 30~90% RH | |
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