sistema de rayos x industrial
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Sistema de inspección industrial NDT con microenfoque de rayos X CT
1. El sistema de microensayos no destructivos TC utiliza una fuente de rayos X de microfoco y un detector de alta resolución, lo que da como resultado un tamaño compacto y al mismo tiempo ofrece una amplia gama de capacidades de inspección. 2. El sistema de micro-TC de prueba no destructiva admite radiografía de alta resolución y escaneo TC de alta velocidad, con una operación simple. 3. El sistema de rayos X industriales se puede combinar con fuentes de rayos X de microfoco de 160 kV a 300 kV, logrando una resolución JIMA de hasta 0,5 μm.
Sistema de inspección por TC con microenfoque de rayos X sistema de inspección por tomografía computarizada con microenfoque Sistema de rayos X industrial Sistema de microensayos no destructivos CTEmail Detalles
