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Difractómetro de polvo de rayos X Xrd
El difractómetro de rayos X de la serie AL está diseñado para la investigación de materiales y el análisis de productos industriales. La difracción de rayos X en polvo es la combinación perfecta de análisis convencional con productos de medición para propósitos especiales. El difractómetro de rayos X analiza material inorgánico u orgánico natural o sintético, ampliamente utilizado en el campo de los minerales de arcilla, cemento, materiales de construcción, polvo ambiental, productos químicos, productos farmacéuticos, asbesto, roca, investigación de polímeros.
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Medidor de espesor de recubrimiento por fluorescencia de rayos X (AL-NP-7010)
El medidor de espesor de recubrimiento de fluorescencia de rayos X es un instrumento analítico que utiliza tecnología de análisis de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva para medir simultáneamente múltiples elementos. Se puede configurar para analizar y determinar cualquier cantidad de elementos, desde Na hasta U, según los requisitos de la aplicación del usuario.
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Pruebas radiográficas industriales NDT RT
La prueba radiográfica industrial NDT RT está especialmente diseñada para el análisis de núcleos. Según la longitud y el diámetro del núcleo, la distancia entre la fuente de rayos X y el detector se puede ajustar para obtener el mejor resultado de imagen. Pruebas radiográficas industriales NDT RT mediante mesa de trabajo rotada (con barril hecho de plástico o Al), el usuario puede obtener la imagen interna 3D del núcleo, las imágenes de rayos X 2D o 3D podrían proporcionar datos internos del núcleo muy valiosos, los datos coula pe useu oI Uvavah lgcore calidad o realizar más estudios.
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CT industrial de microenfoque
El diseño de la arquitectura del sistema es simple y compacto, que es un conjunto de sistemas CT industriales de rayos X de alta resolución con configuración flexible y puede satisfacer diversas necesidades de detección. Tiene las características de alta resolución de imágenes, velocidad de escaneo rápida, funciones ricas, operación fácil, operación estable y bajos costos de uso y mantenimiento.
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Radiografía digital industrial X Ray Ct Scan
Este sistema admite inspección 2D y 3D basada en tecnología de tomografía computarizada con inspección de reconocimiento automático de defectos, análisis de materiales, función de ingeniería inversa y otros. El sistema es ideal para inspeccionar metales, cerámicas, núcleos, piezas de fundición complejas, piezas de plástico, piezas de automóviles, joyas, nuevos materiales y semiconductores, etc. Se utiliza ampliamente en tecnología de impresión 3D, investigación biológica, medicina, industria aeroespacial, maquinaria, electricidad, buque, militar, material, geología, arqueología y otros.
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Sistema de radiografía CT de tomografía computarizada industrial
El sistema de tomografía computarizada industrial está compuesto por una fuente de rayos X de alta frecuencia y voltaje constante, un detector de panel plano digital y una mesa de inspección mecánica de alta precisión. El sistema Industrial CT no solo muestra el chip CT y las imágenes 3D del objeto inspeccionado, sino también una inspección de imágenes 2D en tiempo real. Por lo tanto, la radiografía industrial CT se usa ampliamente para la inspección y medición de END en el sector aeroespacial, militar de aviación, maquinaria, fundición, TI, campo del automóvil, etc.
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Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda (AL-BP-3000)
El analizador de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda es un producto de alta tecnología desarrollado por nuestra empresa, que resume la experiencia y las lecciones aprendidas del desarrollo de este tipo de instrumento en China a lo largo de los años, y absorbe y hace referencia a tecnologías internacionales avanzadas. A través de una profunda investigación y desarrollo industrial, todos los indicadores de rendimiento técnico han alcanzado el nivel de productos internacionales similares.
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Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía Analizador Xrf
El espectrómetro de fluorescencia de rayos X (XRF) es un método de análisis universal de última generación para la determinación elemental de diversos materiales. El analizador XRF se caracteriza por una preparación de muestras sencilla, una amplia gama de elementos de medición, alta precisión, buena reproducibilidad, velocidad de medición rápida (de 30 a 900 s), sin contaminación ambiental y sin daños a las muestras.
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Difractómetro de rayos X AL-Y3000
El difractómetro AL-Y3000 está diseñado para la investigación de materiales y el análisis de productos industriales, y es un producto integral que combina el análisis convencional con mediciones para fines especiales.
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